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簡(jiǎn)要描述：雙基涂層測(cè)厚儀WH82WH82雙基涂層測(cè)厚儀是一種便攜式雙基（鐵
、鋁）測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室中的精密測(cè)量，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)廣泛地應(yīng)用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開發(fā)等領(lǐng)域，是企業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量、商檢測(cè)控、*的檢測(cè)儀器。
產(chǎn)品型號(hào)：WH82廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家 更新時(shí)間：2025-01-20訪 問(wèn) 量：2849 產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
雙基涂層測(cè)厚儀WH82
WH82雙基涂層測(cè)厚儀是一種便攜式雙基(鐵、鋁)測(cè)量?jī)x WH82雙基涂層測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù) WH82雙基涂層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn) GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》 WH82雙基涂層測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn) 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度;可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)量頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正，保證儀器在測(cè)量過(guò)程中儀器的準(zhǔn)確性;能快速自動(dòng)識(shí)別鐵基體與非鐵基體具有電源欠壓指示功能操作過(guò)程有蜂鳴聲提示;設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;有負(fù)數(shù)顯示功能，保證儀器在零位點(diǎn)的校準(zhǔn)準(zhǔn)確性;有顯示平均值、zui大值、zui小值功能[*] WH82雙基涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅 a) 磁性法(F 型測(cè)量頭) 當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí) b) 渦流法(N 型測(cè)量頭) 利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng) WH82雙基涂層測(cè)厚儀的使用說(shuō)明 1)開機(jī) 按下 ON 鍵后儀器聽到一聲鳴響 2)關(guān)機(jī) 在無(wú)任何操作的情況下，大約 3分鐘后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。按一下“ON”鍵，立即關(guān)機(jī)。 3)單位制式轉(zhuǎn)換(公制與英制轉(zhuǎn)換) 在待測(cè)狀態(tài)下，按μm/mil可轉(zhuǎn)換其測(cè)量單位。 4)測(cè)量 a)準(zhǔn)備好待測(cè)試件 b)是否需要校準(zhǔn)儀器，如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行(參照 4 儀器校準(zhǔn)) c)迅速將測(cè)量頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕壓測(cè)量頭定位套 WH82雙基涂層測(cè)厚儀的影響因素 a) 基體金屬磁性質(zhì) 磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的) b) 基體金屬電性質(zhì) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響 c) 基體金屬厚度 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度 d) 邊緣效應(yīng) 本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感 e) 曲率 試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響 f) 試件的變形 測(cè)量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù) g) 表面粗糙度 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響 h) 磁場(chǎng) 周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng) i) 附著物質(zhì) 本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)量頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感 j) 測(cè)量頭壓力 測(cè)量頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù) k) 測(cè)量頭的取向 測(cè)量頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中 WH82雙基涂層測(cè)厚儀使用時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定 a) N 基體金屬特性 對(duì)于磁性方法 對(duì)于渦流方法 b) 基體金屬厚度 檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度 c) 邊緣效應(yīng) 不應(yīng)在緊靠試件的突變處 d) 曲率 不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量 e) 讀數(shù)次數(shù) 通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù) f) 表面清潔度 測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土 WH82雙基涂層測(cè)厚儀的保養(yǎng)與維修 1 環(huán)境要求 嚴(yán)格避免碰撞、重塵 2 更換電池 本儀器在使用中 3 故障排除 1)更換電池 儀器 5 天以上不使用時(shí)應(yīng)取出電池 2)恢復(fù)出廠設(shè)置 開機(jī)狀態(tài)下 3)測(cè)量頭校準(zhǔn)修正 出現(xiàn)較大誤差(如：校準(zhǔn)不當(dāng)或有操作錯(cuò)誤等)可作六點(diǎn)修正校準(zhǔn),校準(zhǔn)儀器。 雙基涂層測(cè)厚儀WH82 產(chǎn)品咨詢 郵箱：625215723@qq.com 地址：天津市武清區(qū)曹子里鎮(zhèn)正興道5號(hào) 客戶服務(wù)號(hào) 微信個(gè)人號(hào)，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室中的精密測(cè)量，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)廣泛地應(yīng)用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開發(fā)等領(lǐng)域，是企業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量、商檢測(cè)控、*的檢測(cè)儀器。測(cè)量范圍 0-1250um 工作電源 兩節(jié) 5 號(hào)電池 測(cè)量精度誤差 零點(diǎn)校準(zhǔn) ±(1+3%H);二點(diǎn)校準(zhǔn)±【(1%～3%H)】H+1.5 環(huán)境溫度 0-40℃ 相對(duì)濕度 ≤85% zui小基體 10*10mm zui小曲率 凸：5mm;凹 ：5mm zui薄基體 0.4mm 重量 115 克(含電池) 尺寸 110mm*65mm*30mm 、 錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
，測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
，當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?div id="jfovm50" class="index-wrap">，通過(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
，自動(dòng)恢復(fù)上次關(guān)機(jī)前的參數(shù)設(shè)置后，將顯示0.0μm，儀器進(jìn)入待測(cè)狀態(tài)?div id="jfovm50" class="index-wrap">？蓽y(cè)量工件了。經(jīng)過(guò)一段時(shí)間不使用儀器將自動(dòng)關(guān)機(jī)。，隨著一聲鳴響，屏幕顯示測(cè)量值，儀器會(huì)自動(dòng)感應(yīng)被測(cè)基體：感應(yīng)到是磁性基體時(shí)儀器顯示 Fe感應(yīng)到是非磁性金屬時(shí)儀器顯示 NFe。測(cè)量時(shí)請(qǐng)始終保持儀器處于垂直狀態(tài)!提起測(cè)量頭可進(jìn)行下次測(cè)量;
，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。。。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后 ，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。 ，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。 ，因此 ，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)量頭和被測(cè)試件表面直接接觸 。，因此，要保持壓力恒定。，應(yīng)當(dāng)使測(cè)量頭與試樣表面保持垂直。，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。，如果沒有，可采用 3.3)中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。。。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。 、油脂及腐蝕產(chǎn)物等 ，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì) 。 、潮濕 、強(qiáng)磁場(chǎng)、油污等 。 ，當(dāng)電池電壓過(guò)低時(shí)，即屏幕上的電池標(biāo)志顯示為空 ，應(yīng)盡快給儀器更換電池。更換電池時(shí)應(yīng)特別注意電池安裝的正負(fù)極性的方向 。 。當(dāng)儀器出現(xiàn)低電壓提示時(shí)應(yīng)更換電池，更換電池時(shí)請(qǐng)注意極性 。 ，在 2 秒內(nèi)依次按下按鍵 、▲ 、▲ 、▼、▼ ，屏幕顯示英文對(duì)話詢問(wèn)是否確認(rèn)恢復(fù)出廠設(shè)置
，要進(jìn)行恢復(fù)出廠設(shè)置，選擇””并按μm/mil確認(rèn)
。
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